X熒光測(cè)厚儀

產(chǎn)品介紹

國內(nèi)X熒光測(cè)厚儀，當(dāng)然是天瑞儀器，天瑞儀器是國內(nèi)早研發(fā)生產(chǎn)X熒光測(cè)厚儀廠家，分析儀器上市企業(yè)，生產(chǎn)的X熒光測(cè)厚儀在行業(yè)內(nèi)應(yīng)用得到了客戶的廣泛應(yīng)用和認(rèn)可，尤其是thick800a屬于鍍層系列的“明星”產(chǎn)品，價(jià)格相比國外更有優(yōu)勢(shì)，產(chǎn)品性能可以和國外相媲美，受到了客戶的親睞。

天瑞X熒光測(cè)厚儀thick800a 技術(shù)指標(biāo)

型號(hào)：Thick 800A

元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。

同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。

分析含量一般為ppm到99.9% 。

鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）

任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。

多變量非線性回收程序

度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

天瑞X熒光測(cè)厚儀thick800a 標(biāo)準(zhǔn)配置

開放式樣品腔。

精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。

雙激光定位裝置。

鉛玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探測(cè)器。

信號(hào)檢測(cè)電子電路。

高低壓電源。

X光管。

高度傳感器

保護(hù)傳感器

計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)

性能特點(diǎn)

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求

φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求

高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度

定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊

鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)

高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)

良好的射線屏蔽作用

測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)

部分產(chǎn)品介紹

天瑞儀器產(chǎn)品包括：X射線電鍍測(cè)厚儀，便攜式土壤重金屬分析儀 ，rohs環(huán)保測(cè)試儀，x射線電鍍層測(cè)厚儀，手持式食品重金屬檢測(cè)儀，金屬光譜分析儀，皮革重金屬含鉛檢測(cè)儀，手持式金屬光譜分析儀，電火花直讀光譜儀，便攜式金屬成分分析儀器，氨逃逸在線分析儀，金鎳厚測(cè)試儀 ，X-RAY膜厚測(cè)試儀，手持不銹鋼測(cè)試儀，手持式合金元素分析儀，手持式不銹鋼材質(zhì)檢測(cè)儀，便攜式金屬分析儀，ROHS熒光分析儀 ，X射線熒光光譜儀，xray光譜儀，xrf分析儀，手持式xrf合金分析儀，皮革含鉛檢測(cè)儀，X熒光無損測(cè)試儀，手持式合金元素檢測(cè)儀 ， X射線熒光光譜分析儀 ，ROHS元素分析儀 ，便攜式重金屬檢測(cè)儀 ，手持式不銹鋼材質(zhì)檢測(cè)光譜儀，不銹鋼xrf成分檢測(cè)儀，手持式直讀光譜分析儀，手持式合金檢測(cè)儀，大氣重金屬分析儀，x熒光鍍層測(cè)厚儀 ，X射線熒光分析儀 ，便攜式光譜儀 ，手提式合金分析儀 ，等離子體發(fā)射光譜儀，能量色散X射線光譜儀，ROHS環(huán)保檢測(cè)設(shè)備，不銹鋼光譜儀，熒光合金分析儀，手持式合金光譜儀，ROHS重金屬檢測(cè)儀，鑄造用光譜儀 ，八大重金屬測(cè)試儀 ，x射線熒光光譜儀 ，鋼鐵冶煉光譜儀，X熒光膜厚儀，ROHS檢測(cè)設(shè)備，便攜式光譜分析儀，XRF熒光光譜儀，鍍層膜厚儀，rohs環(huán)保檢測(cè)儀，  熒光X射線測(cè)厚儀，鋁合金直讀光譜儀，x射線熒光鍍層測(cè)厚儀 ，ROHS有害元素檢測(cè)儀，光電直讀光譜儀 ，手持式X射線熒光光譜儀，電鍍膜厚測(cè)試儀，ROHS無鉛檢測(cè)儀 ，X熒光測(cè)厚儀，手持式熒光光譜儀等。